一、用途 MLT-20大平台检测显微镜是专为IT行业大面积集成电路、晶片的质量检测而设计开发制造的。超大型载物台,样品可作大范围的纵、横方向快慢移动,扩大检测领域的使用范围,适用于电子、冶金、机械、化工、科研、院校等部门,以及金相技术检验,失效分析等。 二、系统简介 主体为:正置式,三目镜筒,比传统的显微镜更适合于观察。上部可安装彩色摄象机连接彩色监视器直接观察,可连接计算机打印报告、照片或连接数码相机。 三、技术参数 1. 目镜 大视野目镜WF10× 视场直径18mm 大视野目镜WF16× 视场直径11mm(选) 平场分划目镜10× (0.1mm格值)(选) 2. 物镜: 物镜 数值孔径NA 工作距离 4X 0.10 17.9 10X 0.25 6.54 20X 0.40 1.05 40X 0.65 0.74 60X(选) 0.85 0.26 100X(选) 1.25 0.44 3. 三目镜筒:滑板式 4. 同轴粗微动调焦机构 调焦范围:25mm 格值0.002 mm 5. 载物台面积:350mm×255mm 纵向移动: 200mm 横向移动:200mm 6. 落射照明光源:6v20w卤素灯 内藏式连续调光电源 四、系统组成 电脑型金相显微镜(MLT-20C): 1、金相显微镜 2、适配镜 3、摄像器(CCD) 4、A/D(图像采集) 5、计算机(选) 数码相机型金相显微镜(MLT-20D): 1、金相显微镜 2、适配镜 3、数码相机(NIKON) 五、总放大参考倍数 MLT-20C型: 40--2600倍 (17寸显示器为例) MLT-20D型: 40--2500倍 (尼康数码相机 4500型)
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