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 产品详细资料 发布时间：2007-8-14 18:06:24  |
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LT-3型单晶少子寿命测试仪
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| 产品分类: 电器 >> 仪器仪表 >> 产品信息 |
特点/规格
*.该仪器参考美国 A.S.T.M 标准而设计的用于 测量硅单晶的非平衡少数载流子寿命；
*.测试单晶电阻率范围： >0.3Ω.cm；
*.可测单晶少子寿命范围： 1μS-10000μS；
*.配备光源类型：红外光源，波长：1.09μm；
余辉<1 μS；闪光频率为：20-30次／秒；
*.前置放大器：放大倍数约25；
*.测量方式：采用对标准曲线读数方式；
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