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当前位置：首页 >> 产品中心 >> 产品详细资料 >> ST-21型方块电阻测试仪
 产品详细资料 发布时间：2007-8-14 14:26:01 
ST-21型方块电阻测试仪
产品分类: 电器 >> 仪器仪表 >> 产品信息
  

特点/规格

*.四探针方块电阻测试仪中的新一代产品，按国家 标准和美国A.S.T.M标准设计，专门测量半导体 薄层电阻（表面电阻率）的新型仪器。 可用于 测量一般半导体材料、导电薄膜（ITO导电膜玻 璃）、金属膜……等同类物质的薄层电阻（表面 电阻率）。
* 轻便手持式设计操作、测试简便；
*.特制之手握式探笔，球形探针、镀金探针有效接 触被测材料及保护薄膜；
*.以大屏幕LCD显示读数，直观清晰；
*.测量范围：1.00～2000.0(Ω/□)；

ST-21型方块电阻测试仪

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