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 产品详细资料 发布时间：2007-8-14 11:33:53  |
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ST-20掌上型方块电阻测试仪
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| 产品分类: 电器 >> 仪器仪表 >> 产品信息 |
特点/规格
*.是一种依照类似的国家标准和美国A.S.T.M标准 而设计专门测量半导体薄层电阻(面电阻)的新型 仪器。 可用于测量一般半导体材料、导电薄膜 (ITO透明氧化膜)、金属膜……等同类物质的薄 层电阻。
*.测量范围：
基本量程：方块电阻 10.0—199.9(Ω/□)
扩展量程：方块电阻 100—1999(Ω/□)
*.体积：130*65*23、低功耗；
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